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[IEEE 2008 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS) - Edinburgh, UK (2008.03.24-2008.03.27)] 2008 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures - Fully considered layout variation analysis and compact modeling of MOSFETs and its application to circuit simulation

Takuji Tanaka,, Akira Satoh,, Mitsuru Yamaji,, Osamu Yamasaki,, Hiroshi Suzuki,, Tsuyoshi Sakata,, Yoshio Inoue,, Masaru Ito,, Seiichiro Yamaguchi,, Hiroshi Arimoto,
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Année:
2008
Langue:
english
DOI:
10.1109/icmts.2008.4509342
Fichier:
PDF, 204 KB
english, 2008
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