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[IEEE VIS 05. IEEE Visualization, 2005. - Minneapolis, MN, USA (Oct. 23-28, 2005)] VIS 05. IEEE Visualization, 2005. - Extracting Higher Order Critical Points and Topological Simplification of 3D Vector Fields

Weinkauf, T., Theisel, H., Kuangyu Shi,, Hege, H.-C., Seidel, H.-P.
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Année:
2005
Langue:
english
DOI:
10.1109/visual.2005.1532842
Fichier:
PDF, 2.70 MB
english, 2005
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