A Novel Test Flow for One-Time-Programming Applications of...

IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 2011 / 12 Vol. 19; Iss. 12

A Novel Test Flow for One-Time-Programming Applications of NROM Technology

Chao, Mango C.-T., Chin, Ching-Yu, Tsou, Yao-Te, Chang, Chi-Min
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Volume:
19
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
DOI:
10.1109/tvlsi.2010.2087044
Date:
December, 2011
Fichier:
PDF, 1.56 MB
english, 2011
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