A study of negative-bias temperature instability of SOI and...

IEEE Electron Device Letters 2005 / 05 Vol. 26; Iss. 5

A study of negative-bias temperature instability of SOI and body-tied FinFETs

Hyunjin Lee,, Choong-Ho Lee,, Donggun Park,, Yang-Kyu Choi,
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
26
Langue:
english
Journal:
IEEE Electron Device Letters
DOI:
10.1109/led.2005.846587
Date:
May, 2005
Fichier:
PDF, 321 KB
english, 2005
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué