High Performance and Stability of Double-Gate Hf–In–Zn–O...

IEEE Electron Device Letters 2010 / 09 Vol. 31; Iss. 9

High Performance and Stability of Double-Gate Hf–In–Zn–O Thin-Film Transistors Under Illumination

Park, Joon Seok, Son, Kyoung Seok, Kim, Tae Sang, Jung, Ji Sim, Lee, Kwang-Hee, Maeng, Wan-Joo, Kim, Hyun-Suk, Kim, Eok Su, Park, Kyung-Bae, Seon, Jong-Baek, Kwon, Jang-Yeon, Ryu, Myung Kwan, Lee, San
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Volume:
31
Langue:
english
Journal:
IEEE Electron Device Letters
DOI:
10.1109/led.2010.2051407
Date:
September, 2010
Fichier:
PDF, 270 KB
english, 2010
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