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[IEEE Conference Record. AUTOTESTCON '96 - Dayton, OH, USA (16-19 Sept. 1996)] Conference Record. AUTOTESTCON '96 - CASS case study

Luster, B.T., Teshiba, M.A.
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Année:
1996
Langue:
english
DOI:
10.1109/autest.1996.547670
Fichier:
PDF, 724 KB
english, 1996
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