Atomic Force Microscopy Can Detect the Binding of Yeast...

Atomic Force Microscopy Can Detect the Binding of Yeast Replication Factor C to DNA

Green, Lisa, Schotanus, Mark, McAlear, Michael A., Howell, Elizabeth A.

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Volume:

Langue:

english

Journal:

Nano Letters

DOI:

10.1021/nl025831c

Date:

January, 2003

Fichier:

PDF, 86 KB

english, 2003

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