Mechanosensing of substrate thickness

Physical Review E 2010 / 10 Vol. 82; Iss. 4

Mechanosensing of substrate thickness

Lin, Yu-Chun, Tambe, Dhananjay T., Park, Chan Young, Wasserman, Michael R., Trepat, Xavier, Krishnan, Ramaswamy, Lenormand, Guillaume, Fredberg, Jeffrey J., Butler, James P.
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Volume:
82
Langue:
english
Journal:
Physical Review E
DOI:
10.1103/physreve.82.041918
Date:
October, 2010
Fichier:
PDF, 285 KB
english, 2010
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