Locally Enhanced Relative Humidity for Scanning Probe...

Langmuir 2005 / 11 Vol. 21; Iss. 24

Locally Enhanced Relative Humidity for Scanning Probe Nanolithography

Su, Ming, Pan, Zixiao, Dravid, Vinayak P., Thundat, Thomas
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Volume:
21
Langue:
english
Journal:
Langmuir
DOI:
10.1021/la051591f
Date:
November, 2005
Fichier:
PDF, 482 KB
english, 2005
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