Layout Technique for Single-Event Transient Mitigation via...

IEEE Transactions on Nuclear Science 2011 / 06 Vol. 58; Iss. 3

Layout Technique for Single-Event Transient Mitigation via Pulse Quenching

Atkinson, Nicholas M., Witulski, Arthur F., Holman, W. Timothy, Ahlbin, Jonathan R., Bhuva, Bharat L., Massengill, Lloyd W.
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Volume:
58
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Nuclear Science
DOI:
10.1109/TNS.2010.2097278
Date:
June, 2011
Fichier:
PDF, 354 KB
english, 2011
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