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[IEEE 2011 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT 2011) - Hsinchu (2011.04.25-2011.04.28)] Proceedings of 2011 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test - Monitoring gate and interconnect delay variations by using ring oscillators

Ying-Yen Chen,, Chen-Tung Lin,, Jin-Nung Lee,, Chi-Feng Wu,
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Année:
2011
Langue:
english
DOI:
10.1109/VDAT.2011.5783597
Fichier:
PDF, 538 KB
english, 2011
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