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[IEEE 2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2010) - Singapore, Singapore (2010.07.5-2010.07.9)] 2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits - Threshold voltage shift in FIB circuit edit of embedded flash device

Joon Chai Yeoh,, Chong, KC, Khairizam, A.R., Sim, Mei-Mei I., Meng Chuan Lee,, Susan Li,
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Année:
2010
Langue:
english
DOI:
10.1109/IPFA.2010.5532305
Fichier:
PDF, 527 KB
english, 2010
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