Evaluation of a design methodology dedicated to...

IEEE Transactions on Nuclear Science 2002 / 06 Vol. 49; Iss. 3

Evaluation of a design methodology dedicated to dose-rate-hardened linear integrated circuits

Deval, Y., Lapuyade, H., Fouillat, R., Barnaby, H., Darracq, F., Briand, R., Lewis, D., Schrimpf, R.D.
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Volume:
49
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Nuclear Science
DOI:
10.1109/TNS.2002.1039685
Date:
June, 2002
Fichier:
PDF, 207 KB
english, 2002
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