Evaluation of Residual Stress in Thin Ferroelectric Films...

Evaluation of Residual Stress in Thin Ferroelectric Films Using Grazing Incident X-Ray Diffraction

PETROV, Peter KR., SARMA, KUMARAVINOTHAN, ALFORD, NEIL MCN.
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Volume:
63
Langue:
english
Journal:
Integrated Ferroelectrics
DOI:
10.1080/10584580490459431
Date:
January, 2004
Fichier:
PDF, 120 KB
english, 2004
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