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[IEEE 2004 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) - Grapevine, TX, USA (2004.09.19-2004.09.23)] 2004 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium - ESD protection solutions for high voltage technologies

Keppens, Bart, Mergens, Markus P.J., Trinh, Cong Son, Russ, Christian C., Van Camp, Benjamin, Verhaege, Koen G.

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Année:

2004

Langue:

english

DOI:

10.1109/EOSESD.2004.5272593

Fichier:

PDF, 323 KB

english, 2004

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