Quantitative XPS — multiline approach

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 1986 Vol. 40; Iss. 3

Quantitative XPS — multiline approach

Wolfgang Hanke, Horst Ebel, Maria F. Ebel, Alexander Jablonski, Kichinosuke Hirokawa
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Volume:
40
Année:
1986
Langue:
english
Pages:
17
DOI:
10.1016/0368-2048(86)80023-8
Fichier:
PDF, 798 KB
english, 1986
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