Analytical Modeling of Threshold Voltage and Interface...

IEEE Transactions on Electron Devices 2014 / 04 Vol. 61; Iss. 4

Analytical Modeling of Threshold Voltage and Interface Ideality Factor of Nanoscale Ultrathin Body and Buried Oxide SOI MOSFETs With Back Gate Control

Fasarakis, Nikolaos, Karatsori, Theano, Tassis, Dimitrios H., Theodorou, Christoforos G., Andrieu, Francois, Faynot, Olivier, Ghibaudo, Gerard, Dimitriadis, Charalabos A.
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
61
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Electron Devices
DOI:
10.1109/TED.2014.2306015
Date:
April, 2014
Fichier:
PDF, 1.51 MB
english, 2014
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué