Probing Organic Field Effect Transistors In Situ during...

Journal of the American Chemical Society 2006 / 05 Vol. 128; Iss. 20

Probing Organic Field Effect Transistors In Situ during Operation Using SFG

Ye, Hongke, Abu-Akeel, Ashraf, Huang, Jia, Katz, Howard E., Gracias, David H.
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Volume:
128
Langue:
english
Journal:
Journal of the American Chemical Society
DOI:
10.1021/ja060442w
Date:
May, 2006
Fichier:
PDF, 82 KB
english, 2006
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