[IEEE 1995 SBMO/IEEE MTT-S International Microwave and Optoelectronics Conference - Rio de Janeiro, Brazil (24-27 July 1995)] Proceedings of 1995 SBMO/IEEE MTT-S International Microwave and Optoelectronics Conference - A new semidistributed model for the noise and scattering parameters of the M(H)MIC FETs

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