Study of Transport and Dielectric of Resistive Memory...

Japanese Journal of Applied Physics 2005 / 10 Vol. 44; Iss. No. 42

Study of Transport and Dielectric of Resistive Memory States in NiO Thin Film

Kim, Min Gyu, Kim, Sun Man, Choi, Eun Jip, Moon, Seung Eon, Park, Jonghyurk, Kim, Hyoung Chan, Park, Bae Ho, Lee, Myoung Jae, Seo, Sunae, Seo, David H., Ahn, Seung Eun, Yoo, In Kyeong
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Volume:
44
Langue:
english
Journal:
Japanese Journal of Applied Physics
DOI:
10.1143/JJAP.44.L1301
Date:
October, 2005
Fichier:
PDF, 205 KB
english, 2005
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