Design features of an ultrahigh-vacuum electron microscope...

Ultramicroscopy 1991 Vol. 36; Iss. 1-3

Design features of an ultrahigh-vacuum electron microscope for REM-PEEM studies of surfaces

Yukihito Kondo, Katsumichi Yagi, Kunio Kobayashi, Hideo Kobayashi, Yuuji Yanaka, Kouji Kise, Tatsuo Ohkawa
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Volume:
36
Année:
1991
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1016/0304-3991(91)90145-v
Fichier:
PDF, 565 KB
english, 1991
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