In SituMonitoring of Thermally Induced Resistivity Changes...

Journal of Electronic Materials 2014 / 02 Vol. 43; Iss. 2

In SituMonitoring of Thermally Induced Resistivity Changes in Silver Thin Films

De Maeyer, B., Van Wonterghem, F., Proost, J.
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Volume:
43
Langue:
english
Journal:
Journal of Electronic Materials
DOI:
10.1007/s11664-013-2837-z
Date:
February, 2014
Fichier:
PDF, 697 KB
english, 2014
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