Modeling of Physical Defects in PN Junction Based Graphene...

Journal of Electronic Testing 2014 / 06 Vol. 30; Iss. 3

Modeling of Physical Defects in PN Junction Based Graphene Devices

Miryala, Sandeep, Oleiro, Matheus, Bolzani Pöhls, Letícia Maria, Calimera, Andrea, Macii, Enrico, Poncino, Massimo
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Volume:
30
Langue:
english
Journal:
Journal of Electronic Testing
DOI:
10.1007/s10836-014-5458-4
Date:
June, 2014
Fichier:
PDF, 1.53 MB
english, 2014
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