Changes in tip structure measured during STM lithography

Changes in tip structure measured during STM lithography

J. Vetrone, Y.-W. Chung
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Volume:
78
Année:
1994
Langue:
english
Pages:
8
DOI:
10.1016/0169-4332(94)90022-1
Fichier:
PDF, 825 KB
english, 1994
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