Raman study of the stress in MBE-grown AlxGa1-xAs on Si

Applied Surface Science 1989 Vol. 41-42; Iss. none

Raman study of the stress in MBE-grown AlxGa1-xAs on Si

Kanji Iizuka, Takashi Yoshida, Makoto Hasobe, Ikuo Matsuda, Toshimasa Suzuki
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Volume:
41-42
Année:
1989
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1016/0169-4332(89)90127-x
Fichier:
PDF, 295 KB
english, 1989
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