A study of the Si(111)√3 × √3-Ag surface by transmission...

A study of the Si(111)√3 × √3-Ag surface by transmission X-ray diffraction and X-ray diffraction topography

Toshio Takahashi, Shinichiro Nakatani, Naoko Okamoto, Tetsuya Ishikawa, Seishi Kikuta
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Volume:
242
Année:
1991
Langue:
english
Pages:
1
DOI:
10.1016/0167-2584(91)90422-n
Fichier:
PDF, 72 KB
english, 1991
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