An analysis of defect densities found during software...

An analysis of defect densities found during software inspections

John C. Kelly, Joseph S. Sherif, Jonathan Hops
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Volume:
17
Année:
1992
Langue:
english
Pages:
7
DOI:
10.1016/0164-1212(92)90089-3
Fichier:
PDF, 638 KB
english, 1992
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