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[IEEE 2010 34th International Electronics Manufacturing Technology Conference (IEMT) - Melaka, Malaysia (2010.11.30-2010.12.2)] 2010 34th IEEE/CPMT International Electronic Manufacturing Technology Symposium (IEMT) - Frequency and time domain characterization of substrate coupling effects in 3D integration stack

Eid, E., Lacrevaz, T., Bermond, C., Capraro, S., Roullard, J., Flechet, B., Cadix, L., Farcy, A., Ancey, P., Calmon, F., Valorge, O., Leduc, P.
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Année:
2010
Langue:
english
DOI:
10.1109/IEMT.2010.5746730
Fichier:
PDF, 1.89 MB
english, 2010
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