Coplanar and grazing incidence x-ray-diffraction...

Physical Review B 1998 / 9 Vol. 58; Iss. 12

Coplanar and grazing incidence x-ray-diffraction investigation of self-organized SiGe quantum dot multilayers

Holý, V., Darhuber, A. A., Stangl, J., Zerlauth, S., Schäffler, F., Bauer, G., Darowski, N., Lübbert, D., Pietsch, U., Vávra, I.
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Volume:
58
Langue:
english
Journal:
Physical Review B
DOI:
10.1103/PhysRevB.58.7934
Date:
September, 1998
Fichier:
PDF, 1.67 MB
english, 1998
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