Influence of the formation conditions on the microstructure...

Thin Solid Films 1995 Vol. 255; Iss. 1-2

Influence of the formation conditions on the microstructure of porous silicon layers studied by spectroscopic ellipsometry

U. Rossow, U. Frotscher, M. Thönissen, M.G. Berger, S. Frohnhoff, H. Münder, W. Richter
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
255
Année:
1995
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1016/0040-6090(94)05676-5
Fichier:
PDF, 367 KB
english, 1995
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué