A novel method for measuring the thermal conductivity of...

A novel method for measuring the thermal conductivity of submicrometre thick dielectric films

M. Okuda, S. Ohkubo
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Volume:
213
Année:
1992
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1016/0040-6090(92)90280-o
Fichier:
PDF, 463 KB
english, 1992
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