IR ellipsometry study of oriented molecular monolayers

Thin Solid Films 1988 Vol. 156; Iss. 2

IR ellipsometry study of oriented molecular monolayers

R. Benferhat, B. Drévillon, P. Robin
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Volume:
156
Année:
1988
Langue:
english
Pages:
12
DOI:
10.1016/0040-6090(88)90324-0
Fichier:
PDF, 570 KB
english, 1988
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