Temperature and thickness dependence of the Ohmic and...

Temperature and thickness dependence of the Ohmic and thermoelectric behaviour of Cu-Ni thin films of constantan type obtained by controlled UHV co-evaporation

G Richon, J Gouault, J.J Herou
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
36
Année:
1976
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1016/0040-6090(76)90398-9
Fichier:
PDF, 211 KB
english, 1976
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué