DLTS study of deep traps in Si varactor structures

Solid-State Electronics 1995 Vol. 38; Iss. 4

DLTS study of deep traps in Si varactor structures

L. Harmatha, V. Nágl, Ł. Stuchlíková, M. Gaži, J. Halaj
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Volume:
38
Année:
1995
Langue:
english
Pages:
2
DOI:
10.1016/0038-1101(94)00185-i
Fichier:
PDF, 200 KB
english, 1995
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