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Generation and annealing of interface traps on oxidized...

Generation and annealing of interface traps on oxidized silicon irradiated by keV electrons

Wallace Wan-Li Lin, Chih-Tang Sah
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Volume:
31
Année:
1988
Langue:
english
Pages:
9
DOI:
10.1016/0038-1101(88)90112-8
Fichier:
PDF, 1002 KB
english, 1988
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