Defect level signatures in CuInSe2 by photocurrent and...

Thin Solid Films 2013 / 5 Vol. 535

Defect level signatures in CuInSe2 by photocurrent and capacitance spectroscopy

Krysztopa, A., Igalson, M., Gütay, L., Larsen, J.K., Aida, Y.
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Volume:
535
Langue:
english
Journal:
Thin Solid Films
DOI:
10.1016/j.tsf.2012.12.084
Date:
May, 2013
Fichier:
PDF, 374 KB
english, 2013
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