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Structural Dynamics of Electronic and Photonic Systems (Suhir/Structural Dynamics of Micro Systems) || Shock Test Methods and Test Standards for Portable Electronic Devices

Suhir, Ephraim, Steinberg, David S., Yu, T. X.
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Année:
2011
Langue:
english
Pages:
15
DOI:
10.1002/9780470950012.ch7
Fichier:
PDF, 6.80 MB
english, 2011
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