FTIR-ATR spectroscopy in thin film studies: The importance...

Applied Surface Science 2013 / 05 Vol. 273

FTIR-ATR spectroscopy in thin film studies: The importance of sampling depth and deposition substrate

Laroche, G., Fitremann, J., Gherardi, N.
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
273
Langue:
english
Journal:
Applied Surface Science
DOI:
10.1016/j.apsusc.2013.02.095
Date:
May, 2013
Fichier:
PDF, 547 KB
english, 2013
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué