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Measurement of aluminium concentration in GaAlAs epitaxial...

Materials Letters 1988 / 11 Vol. 7; Iss. 5-6

Measurement of aluminium concentration in GaAlAs epitaxial layers by double-axis X-ray diffraction

Tanner, B.K., Miles, S.J., Peterson, G.G., Sacks, R.N.
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Volume:
7
Langue:
english
Journal:
Materials Letters
DOI:
10.1016/0167-577X(88)90019-5
Date:
November, 1988
Fichier:
PDF, 198 KB
english, 1988
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