Characterization of Intermodulation and Memory Effects...

IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 2014 / 03 Vol. 62; Iss. 3

Characterization of Intermodulation and Memory Effects Using Offset Multisine Excitation

Farsi, Saeed, Draxler, Paul, Gheidi, Hamed, Nauwelaers, Bart K. J. C., Asbeck, Peter, Schreurs, Dominique
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Volume:
62
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
DOI:
10.1109/TMTT.2014.2302745
Date:
March, 2014
Fichier:
PDF, 3.15 MB
english, 2014
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