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Inelastic background analysis of HAXPES spectra: towards...

Surface and Interface Analysis 2014 / 10 Vol. 46; Iss. 10-11

Inelastic background analysis of HAXPES spectra: towards enhanced bulk sensitivity in photoemission

Risterucci, Paul, Renault, Olivier, Martinez, Eugénie, Detlefs, Blanka, Zegenhagen, Jorg, Grenet, Geneviève, Tougaard, Sven
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Volume:
46
Langue:
english
Journal:
Surface and Interface Analysis
DOI:
10.1002/sia.5484
Date:
October, 2014
Fichier:
PDF, 729 KB
english, 2014
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