Minority Carrier Lifetime Analysis in the Bulk of Thin-Film...

IEEE Journal of Photovoltaics 2013 / 10 Vol. 3; Iss. 4

Minority Carrier Lifetime Analysis in the Bulk of Thin-Film Absorbers Using Subbandgap (Two-Photon) Excitation

Kuciauskas, Darius, Kanevce, Ana, Burst, James M., Duenow, Joel N., Dhere, Ramesh, Albin, David S., Levi, Dean H., Ahrenkiel, Richard K.
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Volume:
3
Langue:
english
Journal:
IEEE Journal of Photovoltaics
DOI:
10.1109/JPHOTOV.2013.2270354
Date:
October, 2013
Fichier:
PDF, 1.29 MB
english, 2013
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