Reliability issues in submicron MOSFETs with oxynitride...

Reliability issues in submicron MOSFETs with oxynitride gate dielectrics

Aniruddha B. Joshi, Dim-Lee Kwong
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Volume:
33
Année:
1993
Langue:
english
Pages:
22
DOI:
10.1016/0026-2714(93)90090-l
Fichier:
PDF, 1.13 MB
english, 1993
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