Fatigue and resistance analysis of COG modules using...

Microelectronics Reliability 2014 / 04 Vol. 54; Iss. 4

Fatigue and resistance analysis of COG modules using electro-mechanical coupling method

Gao, Hong, Ma, Jian-hua, Gao, Li-Lan, Zhang, Dong
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Volume:
54
Langue:
english
Journal:
Microelectronics Reliability
DOI:
10.1016/j.microrel.2013.12.025
Date:
April, 2014
Fichier:
PDF, 2.77 MB
english, 2014
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