Electronic and structural characterisation of Cu3BiS3 thin...

Electronic and structural characterisation of Cu3BiS3 thin films for the absorber layer of sustainable photovoltaics

Yakushev, M.V., Maiello, P., Raadik, T., Shaw, M.J., Edwards, P.R., Krustok, J., Mudryi, A.V., Forbes, I., Martin, R.W.
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Volume:
562
Langue:
english
Journal:
Thin Solid Films
DOI:
10.1016/j.tsf.2014.04.057
Date:
July, 2014
Fichier:
PDF, 649 KB
english, 2014
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