[IEEE IEEE MTT-S International Microwave Symposium - IMS...

  • Main
  • [IEEE IEEE MTT-S International...

[IEEE IEEE MTT-S International Microwave Symposium - IMS 2003 - Philadelphia, PA, USA (8-13 June 2003)] IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest, 2003 - CAD identification and validation of a non-linear dynamic model for performance analysis of large-signal amplifiers

Florian, C., Filicori, F., Mirri, D., Brazil, T., Wren, M.
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
3
Année:
2003
Langue:
english
DOI:
10.1109/MWSYM.2003.1210582
Fichier:
PDF, 307 KB
english, 2003
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué