Accelerated degradation of Al3+ doped ZnO thin films using...

Organic Electronics 2014 / 02 Vol. 15; Iss. 2

Accelerated degradation of Al3+ doped ZnO thin films using damp heat test

Litzov, Ivan, Azimi, Hamed, Matt, Gebhard, Kubis, Peter, Stubhan, Tobias, Popov, Georgi, Brabec, Christoph J.
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Volume:
15
Langue:
english
Journal:
Organic Electronics
DOI:
10.1016/j.orgel.2013.12.001
Date:
February, 2014
Fichier:
PDF, 2.19 MB
english, 2014
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