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[IEEE 2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual - Phoenix, AZ, USA (2007.04.15-2007.04.19)] 2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual - A Comprehensive Model for Hot Carrier Degradation in LDMOS Transistors

Moens, P., Mertens, J., Bauwens, F., Joris, P., De Ceuninck, W., Tack, M.
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Année:
2007
Langue:
english
DOI:
10.1109/RELPHY.2007.369940
Fichier:
PDF, 311 KB
english, 2007
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