Accurate quantification of Cu(In,Ga)Se2 films by AES depth...

Applied Surface Science 2013 / 10 Vol. 282

Accurate quantification of Cu(In,Ga)Se2 films by AES depth profiling analysis

Jang, Jong Shik, Hwang, Hye Hyen, Kang, Hee Jae, Chae, Hong-Chol, Chung, Yong-Duck, Kim, Kyung Joong
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Volume:
282
Langue:
english
Journal:
Applied Surface Science
DOI:
10.1016/j.apsusc.2013.06.052
Date:
October, 2013
Fichier:
PDF, 1.14 MB
english, 2013
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