Campagne de collecte 15 septembre 2024 – 1 octobre 2024 C'est quoi, la collecte de fonds?

Design and Assessment of a Circuit and Layout Level...

IEEE Transactions on Nuclear Science 2007 / 08 Vol. 54; Iss. 4

Design and Assessment of a Circuit and Layout Level Radiation Hardened CMOS VCSEL Driver

Leroux, Paul, Lens, Steven, Voorspoels, Reinhard, Van Uffelen, Marco, De Cock, Wouter, Steyaert, Michiel, Berghmans, Francis
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
54
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Nuclear Science
DOI:
10.1109/TNS.2007.901195
Date:
August, 2007
Fichier:
PDF, 376 KB
english, 2007
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué